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Epitaxial growth analysis of YBaCuO thin films by ion backscattering and channeling spectrometry

Meyer, O.; Geerk, J.; Li, Q.; Linker, G.; Xi, X. X.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nukleare Festkörperphysik (INFP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1990
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 120027511
HGF-Programm 13.01.02 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in Nuclear Instruments and Methods B
Band 45
Seiten 483-87
Erscheinungsvermerk Proc.of the Internat.Conf. on Ion Beam Analysis, Kingston, CDN, June 26-30, 1989
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