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Growth characterization of YBa₂Cu₃O₇₋ₓ thin films on (100) MgO

Li, Q.; Meyer, O.; Xi, X. X.; Geerk, J.; Linker, G.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nukleare Festkörperphysik (INFP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1989
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 120028023
HGF-Programm 13.03.02 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in Applied Physics Letters
Band 55
Seiten 310-12
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