KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

Growth characterization of YBa₂Cu₃O₇₋ₓ thin films on (100) MgO

Li, Q.; Meyer, O.; Xi, X.X.; Geerk, J.; Linker, G.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nukleare Festkörperphysik (INFP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1989
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 120028023
HGF-Programm 13.03.02; LK 01
Erschienen in Applied Physics Letters
Band 55
Seiten 310-12
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page