A method to test whether a system i near failure
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Datenverarbeitung in der Technik (IDT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1991 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 120030378 |
| HGF-Programm | 50.01.02 (Vor POF, LK 01) |
| Erschienen in | Microelectronics and Reliability |
| Band | 30 |
| Seiten | 1049-54 |
| Erscheinungsvermerk | (1990) |