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A method to test whether a system i near failure

Nakashima, K.; Weber, G.G.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Datenverarbeitung in der Technik (IDT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1991
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 120030378
HGF-Programm 50.01.02 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in Microelectronics and Reliability
Band 30
Seiten 1049-54
Erscheinungsvermerk (1990)
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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