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Patterning of high Tsub(c) films for critical current measurements

Schomburg, W. K.; Heidinger, M.; Noether, G.; Reiner, J.; Windte, V.; Schauer, W.; Kadel, K.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1991
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 120030754
HGF-Programm 16.01.02 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in Cryogenics
Band 31
Seiten 366-68
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