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Channeling spectrometry in HTSC thin film analysis

Remmel, J.; Geerk, J.; Linker, G.; Meyer, O.; Wang, R.L.; Wolf, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nukleare Festkörperphysik (INFP)
Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1992
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 120032071
HGF-Programm 34.01.03; LK 01
Erschienen in Nuclear Instruments and Methods B
Band 64
Seiten 174-78
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