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Quantitative analysis of ionic solids by secondary neutral mass spectrometry

Fichtner, M.; Goschnick, J.; Schmidt, U.C.; Schweiker, A.; Ache, H.J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Radiochemie (IRCH)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1992
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 120032165
HGF-Programm 22.02.04; LK 01
Erschienen in Journal of Vacuum Science and Technology A
Band 10
Seiten 362-67
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