Quantitative analysis of ionic solids by secondary neutral mass spectrometry

Fichtner, M.; Goschnick, J.; Schmidt, U. C.; Schweiker, A.; Ache, H. J.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Radiochemie (IRCH)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	1992
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 120032165
HGF-Programm	22.02.04 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in	Journal of Vacuum Science and Technology A
Band	10
Seiten	362-67