Depth-profiling of organic layers on microparticles with SNMS

Bentz, J. W. G.; Ewinger, H. P.; Goschnick, J.; Kannen, G.; Ache, H. J.

Seitenaufrufe: 16
seit 26.04.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Radiochemie (IRCH)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	1993
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 120032319
HGF-Programm	22.02.05 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in	Fresenius' Journal of Analytical Chemistry
Band	346
Seiten	123-27
Erscheinungsvermerk	7th Working Conf.on Applied Surface Analysis, Juelich, June 22-25, 1992