Kalibrierung der Tiefenprofile von Mikropartikeln aus Messungen mit plasmagestützter Sekundärmassenspektrometrie. Calibration of depth profiles of microparticles measured with plasma-based secondary neutral mass spectrometry
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Radiochemie (IRCH) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1994 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 120033722 |
| HGF-Programm | 22.01.08 (Vor POF, LK 01) |
| Erschienen in | Fresenius' Journal of Analytical Chemistry |
| Band | 349 |
| Seiten | 203-05 |
| Erscheinungsvermerk | 7.Tagung Festkörperanalytik der GdCh, Chemnitz, 22.-25.Juni 1993 |