KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Kalibrierung der Tiefenprofile von Mikropartikeln aus Messungen mit plasmagestützter Sekundärmassenspektrometrie. Calibration of depth profiles of microparticles measured with plasma-based secondary neutral mass spectrometry

Goschnick, J.; Schuricht, J.; Ache, H.J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Radiochemie (IRCH)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1994
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 120033722
HGF-Programm 22.01.08 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in Fresenius' Journal of Analytical Chemistry
Band 349
Seiten 203-05
Erscheinungsvermerk 7.Tagung Festkörperanalytik der GdCh, Chemnitz, 22.-25.Juni 1993
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page