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A new extended critical state model including the lower critical field and screening

Arndt, T.; Schauer, W.; Reiner, J.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1993
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 120034090
HGF-Programm 34.01.02 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in Physica C
Band 210
Seiten 417-31
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