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Electron microscopy of planar defects in A15 Nb₃Ge

Arita, M.; Nissen, H.U.; Kitano, Y.; Schauer, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1993
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 120034919
HGF-Programm 34.01.02 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in Journal of Solid State Chemistry
Band 107
Seiten 76-92
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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