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ARXPS-analysis and morphology of sputtered nanocrystalline TiC/SiC coatings

Hornetz, B.; Michel, H.J.; Halbritter, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1994
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 120035691
HGF-Programm 41.02.02; LK 01
Erschienen in Fresenius' Journal of Analytical Chemistry
Band 349
Seiten 233-35
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