ARXPS-analysis and morphology of sputtered nanocrystalline TiC/SiC coatings
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1994 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 120035691 |
| HGF-Programm | 41.02.02 (Vor POF, LK 01) |
| Erschienen in | Fresenius' Journal of Analytical Chemistry |
| Band | 349 |
| Seiten | 233-35 |