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An intercomparison of measurement techniques for the determination of the dielectric properties of solids at near millimetre wavelengths

Birch, J.R.; Simonis, G.J.; Afsar, M.N.; Clarke, R.N.; Dutta, J.M.; Frost, H.M.; Gerbaux, X.; Hadni, A.; Hall, W.F.; Heidinger, R.; Ho, W.W.; Jones, C.R.; Königer, F.; Moore, R.L.; Matsuo, H.; Nakano, T.; Richter, W.; Sakai, K.; Stead, M.R.; Stumper, U.; ... mehr



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1994
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 120035904
HGF-Programm 31.04.03; LK 01
Erschienen in IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques
Band 42
Seiten 956-65
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