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An intercomparison of measurement techniques for the determination of the dielectric properties of solids at near millimetre wavelengths

Birch, J. R.; Simonis, G. J.; Afsar, M. N.; Clarke, R. N.; Dutta, J. M.; Frost, H. M.; Gerbaux, X.; Hadni, A.; Hall, W. F.; Heidinger, R.; Ho, W. W.; Jones, C. R.; Königer, F.; Moore, R. L.; Matsuo, H.; Nakano, T.; Richter, W.; Sakai, K.; Stead, M. R.; ... mehr


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1994
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 120035904
HGF-Programm 31.04.03 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques
Band 42
Seiten 956-65
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