ARXPS studies of SiO₂-SiC interfaces and oxidation of 6H SiC single crystal Si-(001) and C-(001) surfaces
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1995 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 120036398 |
| HGF-Programm | 41.02.02 (Vor POF, LK 01) |
| Erschienen in | Journal of Materials Research |
| Band | 9 |
| Erscheinungsvermerk | 8. Arbeitstagung Angewandte Oberflächenanalytik (AOFA8), Kaiserslautern, 5.-8.September 1994 Beitragskurzfassungen S.192,(1994) S.3088-94 |