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Interfacial depth profiling of superconducting High-Tc mono- and multilayer structures by Auger electron spectroscopy

Seibt, E.W.; Zalar, A.; Panjan, P.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1995
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 120036685
HGF-Programm 34.01.01 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in Surface and Interface Analysis
Band 22
Seiten 380-86
Erscheinungsvermerk Proc.of the European Conf.on Applications of (ECASIA 93), Catania, I, October 4-8, 1995,(1994)
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