Interfacial depth profiling of superconducting High-Tc mono- and multilayer structures by Auger electron spectroscopy
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Physik (ITEP) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1995 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 120036685 |
| HGF-Programm | 34.01.01 (Vor POF, LK 01) |
| Erschienen in | Surface and Interface Analysis |
| Band | 22 |
| Seiten | 380-86 |
| Erscheinungsvermerk | Proc.of the European Conf.on Applications of (ECASIA 93), Catania, I, October 4-8, 1995,(1994) |