Auger electron spectroscopy rotational depth profiling of Ni/Cr multilayers using O₂⁺ and Ar⁺ ions
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Physik (ITEP) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1994 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 120036687 |
| HGF-Programm | 34.01.02 (Vor POF, LK 01) |
| Erschienen in | Thin Solid Films |
| Band | 246 |
| Seiten | 35-41 |