Fe-doped sodium aluminosilicate thin films: conductivity, microstructural organization and sensor properties

Bychkov, E.; Bruns, M.; Geckle, U.; Hoffmann, W.; Schlesinger, R.; Ache, H. J.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Radiochemie (IRCH)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	1995
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 120037244
HGF-Programm	41.03.01 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in	Solid State Ionics
Band	74
Seiten	165-78
Erscheinungsvermerk	(1994)