KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Fe-doped sodium aluminosilicate thin films: conductivity, microstructural organization and sensor properties

Bychkov, E.; Bruns, M.; Geckle, U.; Hoffmann, W.; Schlesinger, R.; Ache, H.J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Radiochemie (IRCH)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1995
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 120037244
HGF-Programm 41.03.01 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in Solid State Ionics
Band 74
Seiten 165-78
Erscheinungsvermerk (1994)
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page