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Characterization of nanocrystalline palladium by X-ray atomic density distribution functions

Löffler, J.; Weissmüller, J.; Gleiter, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1995
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 120038635
HGF-Programm 52.01.00 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in NanoStructured Materials
Band 6
Seiten 567-70
Erscheinungsvermerk Proc.of the 2nd Internat.Conf.on, Stuttgart, October 3-7, 1994 NanoStructures Materials
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