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Interface studies on magnetron-sputtered SnO₂-films

Michel, H. J.; Leiste, H.; Nold, E.; Halbritter, J.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1996
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 120038859
HGF-Programm 41.02.02 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in Fresenius' Journal of Analytical Chemistry
Band 353
Seiten 625-30
Erscheinungsvermerk (1995)
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