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Microstructural characterization of nanocrystalline thin films by grazing incidence diffraction: Au and Tb₀̣₃Dy₀̣₇Fe₂ (Terfenol-D)

Skokan, A.; Blanckenhagen, P. von; Quandt, E.; Walter, M.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1998
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 120041799
HGF-Programm 41.02.02 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in Materials Science Forum
Band 278-281
Seiten 460-465
Erscheinungsvermerk European Powder Diffraction Conf. (EPDIC-5), Parma, I, May 25-28, 1997
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