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Rastersondenmikroskopie als Werkzeuge und Meßsonden für die Nanometer-Skala

Schimmel, Th.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1999
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 120046015
HGF-Programm 43.01.02 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in Nachrichten - Forschungszentrum Karlsruhe
Band 31
Seiten 217-23
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