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Tritium depth profiling in carbon by accelerator mass spectrometry

Friedrich, M.; Pilz, W.; Sun, G.; Behrisch, R.; Garcia-Rosales, C.; Bekris, N.; Penzhorn, R.D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Hauptabteilung Versuchstechnik (HVT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2000
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 120046065
HGF-Programm 31.07.02 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in Nuclear Instruments and Methods B
Band 161-163
Seiten 216-20
Erscheinungsvermerk Proc.of the 14th Internat.Conf.on Ion Beam Analysis (IBA-14), Dresden, July 26-30, 1999
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