Nondestructive testing of materials on the micron scale with photothermal methods
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1999 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 120046676 |
| HGF-Programm | 41.03 (Vor POF, LK 01) |
| Erschienen in | NEXUS Research News |
| Heft | 2 |
| Seiten | 13-14 |
| Erscheinungsvermerk | (1999) |