A small and compact AMS facility for tritium depth profiling

Friedrich, M.; Pilz, W.; Bekris, N.; Glugla, M.; Kiisk, M.; Liechtenstein, V.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Hauptabteilung Versuchstechnik (HVT)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2003
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 120053840
HGF-Programm	31.07.02 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in	PRAMANA : Journal of Physics
Band	59
Seiten	1053-59
Erscheinungsvermerk	(2002)
Externe Relationen	Abstract/Volltext