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A small and compact AMS facility for tritium depth profiling

Friedrich, M.; Pilz, W.; Bekris, N.; Glugla, M.; Kiisk, M.; Liechtenstein, V.

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Zugehörige Institution(en) am KIT Hauptabteilung Versuchstechnik (HVT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 120053840
HGF-Programm 31.07.02 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in PRAMANA : Journal of Physics
Band 59
Seiten 1053-59
Erscheinungsvermerk (2002)
Externe Relationen Abstract/Volltext
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