| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Informatik (IAI) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2003 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 120054685 |
| HGF-Programm | 41.04.02 (Vor POF, LK 01) |
| Erschienen in | Inspect : Bildverarbeitung |
| Seiten | 59-60 |
| Erscheinungsvermerk | Oberfläche, Mikroskopie ; eine Sonderpublikation von Messtec & Automation, Ausgabe 1, April 2003 |