Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Informatik (IAI) |
Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
Publikationsjahr | 2003 |
Sprache | Deutsch |
Identifikator | KITopen-ID: 120054685 |
HGF-Programm | 41.04.02 (Vor POF, LK 01) |
Erschienen in | Inspect : Bildverarbeitung |
Seiten | 59-60 |
Erscheinungsvermerk | Oberfläche, Mikroskopie ; eine Sonderpublikation von Messtec & Automation, Ausgabe 1, April 2003 |