Adjoint sensitivity analysis of reliability models with application to IFMIF
Ionescu-Bujor, M.
; Cacuci, D. G.
; Cacuci, D. G.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Reaktorsicherheit (IRS_CN) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2003 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 120056461 |
| HGF-Programm | 31.02.03 (Vor POF, LK 01) |
| Erschienen in | Transactions of the American Nuclear Society |
| Band | 89 |
| Seiten | 415-16 |
| Erscheinungsvermerk | ANS/ENS 2003 Winter Meeting, New Orleans, La., November 16-20, 2003 |