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Adjoint sensitivity analysis of reliability models with application to IFMIF

Ionescu-Bujor, M.; Cacuci, D.G.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Reaktorsicherheit (IRS_CN)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 120056461
HGF-Programm 31.02.03; LK 01
Erschienen in Transactions of the American Nuclear Society
Band 89
Seiten 415-16
Erscheinungsvermerk ANS/ENS 2003 Winter Meeting, New Orleans, La., November 16-20, 2003
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