KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

'Focused ion beam'-Mikroskop, ein neues Werkzeug für die Mikrotechnik

Volkert, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2003
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 120056706
HGF-Programm 41.03.03; LK 01
Heft 18
Erscheinungsvermerk FIF Newsletter, (2003)
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page