Adsorption kinetic of enolase on silicon studied by in situ ellipsometry and wet AFM
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2004 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 120058852 |
| HGF-Programm | 42.02.02 (POF I, LK 01) Nanoskalige Schichtsysteme u.Oberflächen |
| Erschienen in | Acta Microscopica |
| Band | 12 |
| Seiten | 41-44 |
| Erscheinungsvermerk | (2003) Suppl.A |