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Residual stress in Ni-Mn-Ga thin films deposited on different substrates

Doyle, S.; Chernenko, V. A.; Besseghini, S.; Gambardella, A.; Kohl, M.; Mullner, P.; Ohtsuka, M.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2007
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 120070319
HGF-Programm 43.01.05 (POF I, LK 01) Charakterisierung u.Zuverlässigkeit
Erschienen in Materials
Erscheinungsvermerk Research Society Fall Meeting, Boston, Mass., October 26-30, 2007 On-line Journal E13
Externe Relationen Siehe auch
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