KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Residual stress in Ni-Mn-Ga thin films deposited on different substrates

Doyle, S.; Chernenko, V.A.; Besseghini, S.; Gambardella, A.; Kohl, M.; Mullner, P.; Ohtsuka, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2007
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 120070319
HGF-Programm 43.01.05 (POF I, LK 01)
Erschienen in Materials
Erscheinungsvermerk Research Society Fall Meeting, Boston, Mass., October 26-30, 2007 On-line Journal E13
Externe Relationen Siehe auch
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page