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Imaging electronic structure of carbon nanotubes by voltage-contrast scanning electron microscopy

Vijayaraghavan, A.; Blatt, S.; Marquardt, C.; Dehm, S.; Wahi, R.; Hennrich, F.; Krupke, R.


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/s12274-008-8034-3
Dimensions
Zitationen: 27
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 120074029
HGF-Programm 43.02.03 (POF I, LK 01) Kontaktierung und Transport
Erschienen in Nano Research
Band 1
Seiten 321-32
Nachgewiesen in Dimensions
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