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Spatially resolved XRF, XAFS, XRD, STXM and IR investigation of a natural U-rich clay

Denecke, M. A.; Michel, P.; Schäfer, T.; Huber, F.; Rickers, K.; Rothe, J. ORCID iD icon; Dardenne, K. ORCID iD icon; Brendebach, B.; Vitova, T. ORCID iD icon; Elie, M.


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/1742-6596/190/1/012187
Dimensions
Zitationen: 6
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nukleare Entsorgung (INE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 120077355
HGF-Programm 32.27.04 (POF II, LK 01) Entwickl.u.Anpass.v.Speziationsmeth.
Erschienen in Journal of Physics: Conference Series
Band 190
Seiten 012187/1-4
Erscheinungsvermerk 14th Internat.Conf.on X-Ray Absorption Fine Structure (XAFS 14), Camerino, I, July 26-31, 2009
Nachgewiesen in Dimensions
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