KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz
Open Access Logo
Download
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/1742-6596/190/1/012187

Spatially resolved XRF, XAFS, XRD, STXM and IR investigation of a natural U-rich clay

Denecke, M.A.; Michel, P.; Schäfer, T.; Huber, F.; Rickers, K.; Rothe, J.; Dardenne, K.; Brendebach, B.; Vitova, T.; Elie, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nukleare Entsorgung (INE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 120077355
HGF-Programm 32.27.04 (POF II, LK 01)
Erschienen in Journal of Physics: Conference Series
Band 190
Seiten 012187/1-4
Erscheinungsvermerk 14th Internat.Conf.on X-Ray Absorption Fine Structure (XAFS 14), Camerino, I, July 26-31, 2009
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page