Spatially resolved XRF, XAFS, XRD, STXM and IR investigation of a natural U-rich clay
Denecke, M. A.; Michel, P.; Schäfer, T.; Huber, F.; Rickers, K.; Rothe, J.
; Dardenne, K.
; Brendebach, B.; Vitova, T.
; Elie, M.
; Dardenne, K.
; Brendebach, B.; Vitova, T.
; Elie, M.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nukleare Entsorgung (INE) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2009 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 120077355 |
| HGF-Programm | 32.27.04 (POF II, LK 01) Entwickl.u.Anpass.v.Speziationsmeth. |
| Erschienen in | Journal of Physics: Conference Series |
| Band | 190 |
| Seiten | 012187/1-4 |
| Erscheinungsvermerk | 14th Internat.Conf.on X-Ray Absorption Fine Structure (XAFS 14), Camerino, I, July 26-31, 2009 |
| Nachgewiesen in | Dimensions |