| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Informatik (IAI) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2010 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 120080275 |
| HGF-Programm | 34.02.02 (POF II, LK 01) Simulation und Messtechnik |
| Erschienen in | Recycling Magazin |
| Band | 65 |
| Heft | 10 |
| Seiten | 26-29 |