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Tensile testing of microstructures

Scherer, T.; Zhong, S.; Schimmel, T.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1439-4243
KITopen-ID: 120083037
HGF-Programm 43.16.02 (POF II, LK 02) KNMF laboratory for microscopy a.spect.
Erschienen in Imaging and Microscopy
Verlag GIT Verlag
Band 2011
Heft 1
Seiten 44-47
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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