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Tensile testing of microstructures

Scherer, T.; Zhong, S.; Schimmel, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1439-4243
KITopen ID: 120083037
HGF-Programm 43.16.02; LK 02
Erschienen in Imaging and Microscopy
Band 2011
Heft 1
Seiten 44-47
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