KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Tensile testing of microstructures

Scherer, T.; Zhong, S.; Schimmel, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1439-4243
KITopen-ID: 120083037
HGF-Programm 43.16.02 (POF II, LK 02)
Erschienen in Imaging and Microscopy
Band 2011
Heft 1
Seiten 44-47
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page