In-situ straining analysis using ACOM-TEM

Zugehörige Institution(en) am KIT	Helmholtz-Institut Ulm (HIU) Institut für Nanotechnologie (INT) Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2014
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 1439-4243, 1863-7809 KITopen-ID: 120097292
HGF-Programm	43.16.02 (POF II, LK 02) KNMF laboratory for microscopy a.spect.
Erschienen in	Imaging & microscopy
Verlag	GIT Verlag
Heft	1
Seiten	40

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seit 12.05.2018