In-situ straining analysis using ACOM-TEM
Kobler, A.; Kübel, C.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Helmholtz-Institut Ulm (HIU) Institut für Nanotechnologie (INT) Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2014 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1439-4243, 1863-7809 KITopen-ID: 120097292 |
| HGF-Programm | 43.16.02 (POF II, LK 02) KNMF laboratory for microscopy a.spect. |
| Erschienen in | Imaging & microscopy |
| Verlag | GIT Verlag |
| Heft | 1 |
| Seiten | 40 |