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In-situ straining analysis using ACOM-TEM

Kobler, A.; Kübel, C.



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seit 12.05.2018
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Helmholtz-Institut Ulm (HIU)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1439-4243, 1863-7809
KITopen-ID: 120097292
HGF-Programm 43.16.02 (POF II, LK 02)
Erschienen in Imaging & microscopy
Heft 1
Seiten 40
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