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A test case generator for the validation of high-level Petri nets

Desel, Jörg; Oberweis, Andreas ORCID iD icon; Zimmer, Torsten; Zimmermann, Gabriele


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/120497
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik und Formale Beschreibungsverfahren (AIFB)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 1997
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 0-7803-4192-9
urn:nbn:de:swb:90-AAA1204971
KITopen-ID: 120497
Erschienen in Proceedings of the 6th IEEE International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation, ETFA '97, Los Angeles, California, September 9 - 12, 1997
Verlag IEEE Service Center
Seiten 327 - 332
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