| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1998 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 120498 |
| Erscheinungsvermerk | In: Proceedings of the 1998 IEEE 6th International Conference on Conduction and Breakdown in Solid Dielectrics, ICSD 98, Västeras, Sweden 1998. Piscataway, NJ 1998. S. 305-308. |