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Measurement of small diffusion coefficients using ion-beam-sputtering as a microsectioning technique

Mehrer, H.; Maier, K.; Hettich, G.; Mayer, H.J.; Rein, G.; Institut fuer Theoretische und Angewandte Physik, Universitaet Stuttgart; Max-Planck-Institut fuer Metallforschung, Institut fuer Physik, Stuttgart



Zugehörige Institution(en) am KIT GAST (GAST)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1978
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 123000735
Erschienen in Journal of Nuclear Materials
Seiten 545-48
Erscheinungsvermerk 69 u.70(1978)
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