Measurement of small diffusion coefficients using ion-beam-sputtering as a microsectioning technique

Mehrer, H.; Maier, K.; Hettich, G.; Mayer, H. J.; Rein, G.; Institut fuer Theoretische und Angewandte Physik, Universitaet Stuttgart; Max-Planck-Institut fuer Metallforschung, Institut fuer Physik, Stuttgart

Measurement of small diffusion coefficients using ion-beam-sputtering as a microsectioning technique

Mehrer, H.; Maier, K.; Hettich, G.; Mayer, H. J.; Rein, G.; Institut fuer Theoretische und Angewandte Physik, Universitaet Stuttgart [Hrsg.]; Max-Planck-Institut fuer Metallforschung, Institut fuer Physik, Stuttgart [Hrsg.]

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Zugehörige Institution(en) am KIT	GAST (GAST)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	1978
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 123000735
Erschienen in	Journal of Nuclear Materials
Seiten	545-48
Erscheinungsvermerk	69 u.70(1978)

Repository KITopen

Measurement of small diffusion coefficients using ion-beam-sputtering as a microsectioning technique