Thick target yields and analytical sensitivities for reactions induced with 12-MeV-protons on Ti,Fe,Zn,Ge,Zr,Nb,Pd,Ta, and W

Krivan, K.; Krivan, V.; Sektion Analytik und Hoechstreinigung, Universitaet Ulm [Hrsg.]

Seitenaufrufe: 36
seit 23.05.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	GAST (GAST)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	1979
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 123000971
Erschienen in	Fresenius' Zeitschrift für Analytische Chemie
Band	295
Seiten	348-51