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Thick target yields and analytical sensitivities for reactions induced with 12-MeV-protons on Ti,Fe,Zn,Ge,Zr,Nb,Pd,Ta, and W

Krivan, K.; Krivan, V.; Sektion Analytik und Hoechstreinigung, Universitaet Ulm



Zugehörige Institution(en) am KIT GAST (GAST)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1979
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 123000971
Erschienen in Fresenius' Zeitschrift für Analytische Chemie
Band 295
Seiten 348-51
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