Temperature dependence of the diffuse streak system in K₂SnCl₆

Hohlwein, D.; Ihringer, J.; Institut fuer Kristallographie, Universitaet Tuebingen [Hrsg.]

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seit 30.05.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	GAST (GAST)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	1980
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 123001057
Erschienen in	Solid State Communications
Band	36
Seiten	427-29