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Temperature dependence of the diffuse streak system in K₂SnCl₆

Hohlwein, D.; Ihringer, J.; Institut fuer Kristallographie, Universitaet Tuebingen



Zugehörige Institution(en) am KIT GAST (GAST)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1980
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 123001057
Erschienen in Solid State Communications
Band 36
Seiten 427-29
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