A method for the measurement of thermal, dielectric, and pyroelectric properties of thin films and their applications for integrated heat sensors
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Physik (APH) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1990 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 124490 |
| Erscheinungsvermerk | J. of appl. phys. 68 (1990) S. 6361-6367. |