Defect analysis of bipolar CdTe using photo- Hall and photoconductivity measurements in the temperature range 115-293 K
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Physik (APH) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1990 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 124990 |
| Erscheinungsvermerk | Phys. state sol. A 121 (1990) S. 219-226. |