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Messung der Elektronendichte im Beschleunigungsspalt von Hochleistungsionendioden mit Hilfe eines hochempfindlichen Zweiwellenlängen-Dispersions-Interferometers

Licht, Valentin


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/12599
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochleistungsimpuls- und Mikrowellentechnik (IHM)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 1999
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 0947-8620
KITopen-ID: 12599
Reportnummer: FZKA-6293
HGF-Programm 51.03.01 (Vor POF, LK 01)
Verlag Universität Karlsruhe (TH)
Umfang 103 S.
Serie Wissenschaftliche Berichte. FZKA ; 6293
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Physik (PHYSIK)
Institut Institut für Hochleistungsimpuls- und Mikrowellentechnik (IHM)
Prüfungsdaten Diss. v. 22.1.1999
Prüfungsdatum 22.01.1999
Referent/Betreuer Bluhm, H.
Engelhardt, D.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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