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Quantitative analysis of ternary group III nitrides by high resolution transmission electron microscopy

Kret, S.; Ruterana, P.; Rosenauer, Andreas; Gerthsen, Dagmar



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 1262003
Erscheinungsvermerk In: Nitride semiconductors. Handbook on materials and devices. Ed.: P. Ruterana. Weinheim 2003.
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