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Quantitative analysis of ternary group III nitrides by high resolution transmission electron microscopy

Kret, S.; Ruterana, P.; Rosenauer, Andreas; Gerthsen, Dagmar



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-527-40387-5
KITopen-ID: 1262003
Erschienen in Nitride semiconductors. Handbook on materials and devices. Ed.: P. Ruterana
Verlag Wiley-VCH Verlag
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