Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 1997 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISBN: 0-8186-7786-4 urn:nbn:de:swb:90-AAA1266976 KITopen-ID: 126697 |
Erschienen in | Proceedings of the European Design & Test Conference, ED&TC 97 : March 17-20, 1997, Paris, France |
Verlag | IEEE Computer Society |
Seiten | 427-432 |