A synthesis approach to reduce scan design overhead. Abstract
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1990 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 126790 |
| Erscheinungsvermerk | In: Proceedings. 1st European Design Automation Conference, Glasgow 1990. S. 671 ff. |