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| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1990 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 126990 |
| Erscheinungsvermerk | In: Proceedings. 21st IEEE International Test Conference, Washington, DC 1990. S. 670-679. |