Customized checkerboard test structures to localize interconnection point defects
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1997 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 126997 |
| Erscheinungsvermerk | In: Proceedings. VLSI Multilevel Interconnection Conference, Santa Clara, USA 1997. S. 163-168. |