Methoden der Testvorbereitung zum IC-Entwurf
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1990 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 127390 |
| Erscheinungsvermerk | Mikroelektronik 4 (1990) S. 112-115. |