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Einfluß realistischer Defektformen auf die Größenverteilung von Defekten für die Ausbeutevorhersage

Hess, Christopher; Weiland, Larg H.


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 1997
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 127397
Erscheinungsvermerk In: Mikroelektronik '97. Vorträge der GMM-Fachtagung, München 1997. Berlin 1997. S. 265-270. (GMM-Fachbericht. 17.)
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