Error masking in self-testable circuits
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1990 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 127490 |
| Erscheinungsvermerk | In: Proceedings. 21st IEEE International Test Conference, Washington 1990. S. 544-552. |