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Error masking in self-testable circuits

Stroele, Albrecht; Wunderlich, Hans-Joachim


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 1990
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 127490
Erscheinungsvermerk In: Proceedings. 21st IEEE International Test Conference, Washington 1990. S. 544-552.
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