TESTCHIP: A chip for weighted random pattern generation, evaluation and test control
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1990 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 127590 |
| Erscheinungsvermerk | In: Proceedings. ESSCIRC '90. 16th European Solid-State Circuits Conference, Grenoble 1990. S. 101-104. |